晶格电子ST2253型带电脑分析软件 四探针体积电阻率 方块电阻测试仪

¥15000.00-¥17000.00

最小起订量:1 总供货量:12000

ST2253型数字式四探针测试仪简介

一、结构特征


二、概述

ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。

仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。

主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满度自校功能;测试功能可自动/手动方式;仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成,也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示,也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印!

探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

三、基本技术参数

3.1 测量范围

电 阻:1×10-4~2×105Ω ,分辨率:1×10-5~1×102Ω

电阻率:1×10-4~2×105Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102Ω-cm

方 阻:5×10-4~1×106Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102Ω/□

3.2 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)

直 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限

SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.

长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.

测量方位: 轴向、径向均可

3.3 量程划分及误差等级

满度显示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

常规量程

kΩ-cm/□

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本误差

±2%FSB

±4LSB

±1.5%FSB

±4LSB

±0.5%FSB±2LSB

±1.0%FSB

±4LSB

3.4 四探针探头(选配其一或加配全部)

(1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调

(2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可调

3.5. 电源

输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W

3.6.外形尺寸:

主 机 220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高)

净 重:≤2.5kg

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